3H-2000PS1比表面孔径分析仪性能参数
测试理论:
吸附、脱附等温线；
BET单点法，多点法比表面；
朗格缪尔（Langmuir）比表面；
统计吸附层厚度法外比表面；
BJH法孔容孔径分布；
MK-plate法（平行板模型）孔容孔径分布；
D-R法微孔分析；
t-plot法（Boder）微孔分析；
H-K法（Original）微孔分析；
MP法（Brunauer） 微孔分析；
真密度测试；
粒度估算报告
测试精度:重复性误差小于±1.5%;
测试范围:比表面0. 01m2/g以上,微孔;0. 35-2nm、介孔:2nm-50nm、大孔:50nm-500nm；
分 析 站:1个分析站，1个P0站，2个处理站；
独 立P0：具有独立的饱和蒸汽压（P0）测试站，保证分压测试的高准确性；
气路系统:贝士德独创的BEST多路歧管系统，对控制阀门进行整体集成设计，无任何螺纹密封及管路压接或焊接接口，将真空管路减少到极限，彻底消除漏气点，整个系统漏气率低于10-10Pa*m3/s，，密封性提高5倍以上，达到进口高端仪器水平，极大的提升了仪器的稳定性和精确度；气路系统各部分统筹进行模块化组装，极大减少故障率，大幅增强仪器稳定性。
管路通径:大通径是高真空的必备条件，脱气位和测试位采用大通径阀门和管路，使真空泵的极限真空得到效果的体现。
真空系统:仪器配备两套独立的真空系统，既脱气系统和分析系统相互独立；极限真空达到10-2Pa，避免由一套真空系统而带来的污染问题；
压力测量:原装进口电容薄膜双压力传感器，分段测试：0-1000torr，0-1torr；读数精度误差≤0.15%，为目前压力传感器的精度；大孔段具有P0的实时测试功能，使P/P0在趋于灵界点时的控制精度达到0.998；
预 处 理:2路脱气站具有独立温控，并具有独立定时功能，可支持与测试同步进行的不同温度与不同时间的样品脱气处理；
具有“普通加热抽真空分子扩散模式”和“分子置换模式”两种可选功能；分子置换模式相对分子扩散模式效率提高1倍以上，可节省一半以上的预处理时间，解决以往静态法样品制备时间长的问题；
样品类型:粉末,颗粒,纤维及片状材料等可装入样品管的材料。
液位控制:贝士德独创的液氮面伺服保持系统，消除测试过程中由于液氮挥发使液氮面变化而带来的死体积变化，提高测试精度；
标定气体:配备99.999%高纯HE；具有HE气死体积测试功能和温区测试功能；可获得更高的准确性;
测试气体:高纯氮气及根据用户需要可选择多种气体，如，CO2，Ar，Kr等。具有4路独立进气口；
防 污 染:贝士德独创的涡旋降尘原理的非阻隔式防污染装置，结合软件防抽飞程序彻底消除易挥发样品在高真空时的扬析沸腾现象，从而避免污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况。
真 空 泵:双级机械真空泵（德国原装进口泵可选），全程软件自动启停控制。
液 氮 杯:配备了3L大容量小口径杜瓦瓶，保证至少70小时无需添加液氮
仪器规格:尺寸：长78cm宽50cm高47cm，净重：32Kg，电压：AC220v±5%,功率小于500瓦。
3H-2000PS1比表面孔径分析仪技术特点及优势
l 集成式模块化组装管路
整体集成式管路设计，将真空管路大大减少，仪器密封性大大提高，极大的提升了仪器的稳定性和精确度；气路系统各部分统筹进行模块化组装，极大减少故障率，大幅增强仪器稳定性；
l 高精度分段压力测量
仪器的关键部件压力传感器采用原装进口电容薄膜压力传感器，读数精度误差≤+0. 15%，为目前压力传感器的精度；采用压力分段测试可提高不同压力段的测试精度；大孔段具有P0的实时测试功能，使P/P0在趋于灵界点时的控制精度达到0. 998；
l 独立P0测试站
具有独立的饱和蒸汽压（P0）测试站，保证分压测试的高准确性；
l 软硬件配合，彻底消除扬析沸腾现象
贝士德独创的涡旋降尘原理的硬件防抽飞装置，结合软件防抽飞程序彻底消除易挥发样品在高真空时的扬析沸腾现象，从而避免了挥发物污染阀门管路后造成系统气密性下降的情况；
l 可选处理模式
具有国内外首创的样品预处理普通模式和分子置换模式两种模式；
l 杜绝液氮杯意外下降
具有国内的液氮杯防意外“安全下降”智能控制机制，完全避免了液氮杯意外下降气体膨胀使样品管爆裂的危险；
l 真空泵自动启停
优化的真空泵启停管理系统，在测试过程中真空泵无需一直处于运行状态，减小噪音，延长真空泵寿命；
l 断电自动保存当前数据
超强的稳定性，即使意外断电、断线，不会丢失当前数据，且实验可恢复继续进行；
l 密封性自检
的智能自检流程，智能判断样品管是否安装，试管夹套是否拧紧有无漏气；
l 人性化操作界面
清晰形象的图形化控制界面，并可在界面上进行所有硬件的控制操作；
l 高智能化工作模式
交互式数据处理软件可实现仪器的全自动运行，长时间实验完全无需人工值守，可根据用户需要定制报告内容.
技术
静态法比表面及孔径分析仪预处理装置 静态法比表面及孔径分析仪的饱和蒸气压测试装置
（号ZL 2011 2 0136959. X） （号: ZL 2011 2 0136943. 9）
更新时间：2024/1/3 10:25:59
标签：
3H-2000PS1比表面孔径分析仪 3H-2000PS1比表面孔径分析 3H-2000PS1比表面孔径 比表面孔径分析仪
技术支持：阿仪网， 总访问量：1051189
